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Auteur(s):H. Ammari, E. Bonnetier, Y. Capdeboscq, M. Tanter, and M. Fink
Titre:Electrical Impedance Tomography by Elastic Deformation
Référence:SIAM J. Appl. Math. vol. No.68(6) , pp 1557-1573, July 2008
Type de publication:Articles parus dans des revues à comité de lecture
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